L：電感(為了紀念物理學家Heinrich Lenz)，C：電容(Capacitor)，R：電阻(Resistance)，數(shù)字電橋就是能夠測量電感，電容，電阻，阻抗的儀器，這是一個傳統(tǒng)習慣的說法，最早的阻抗測量用的是真正的電橋方法
 

　　隨著現(xiàn)代模擬和數(shù)字技術(shù)的發(fā)展，早已經(jīng)淘汰了這種測量方法，但LCR電橋的叫法一直沿用至今。如果是使用了微處理器的LCR電橋則叫LCR數(shù)字電橋。一般用戶又稱這些為：LCR測試儀、LCR電橋、LCR表、LCR Meter等等。
 

　　采用數(shù)字技術(shù)測量阻抗參數(shù)的電橋。數(shù)字技術(shù)是將傳統(tǒng)的模擬量轉(zhuǎn)換為數(shù)字量，再進行數(shù)字運算、傳遞和處理等。
 

　　1972年，國際上出現(xiàn)帶微處理器的數(shù)字電容電橋，它將模擬電路、數(shù)字電路與計算機技術(shù)結(jié)合在一起，為阻抗測量儀器開辟了一條新路。
 

　　原理
 

　　LCR數(shù)字電橋的測量對象為阻抗元件的參數(shù)，包括交流電阻R、電感L及其品質(zhì)因數(shù)Q，電容C及其損耗因數(shù)D。因此，又常稱數(shù)字電橋為數(shù)字式LCR測量儀。其測量用頻率自工頻到約100千赫。基本測量誤差為0.02%，一般均在0.1%左右。
 

　　Zx = Ux/Ix = Rr * Ux/Ur
 

　　此式為一相量關(guān)系式。如使用相敏檢波器(PSD)分別測出Ux和Ur對應(yīng)于某一參考相量的同相量分量和正交分量，然后經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換(A/D)器將其轉(zhuǎn)化為數(shù)字量，再由計算機進行復數(shù)運算，即可得到組成被測阻抗Zx的電阻值與電抗值。
 

　　LCR數(shù)字電橋只是繼承了電橋傳統(tǒng)的稱呼。實際上它已失去傳統(tǒng)經(jīng)典交流電橋的組成形式，而是在更高的水平上回到以歐姆定律為基礎(chǔ)的測量阻抗的電流表、電壓表的線路和原理中。
 

　　數(shù)字電橋可用于計量測試部門對阻抗量具的檢定與傳遞，以及在一般部門中對阻抗元件的常規(guī)測量。很多數(shù)字電橋帶有標準接口，可根據(jù)被測值的準確度對被測元件進行自動分檔;
 

　　也可直接連接到自動測試系統(tǒng)，用于元件生產(chǎn)線上對產(chǎn)品自動檢驗，以實現(xiàn)生產(chǎn)過程的質(zhì)量控制。80年代中期，通用的誤差低于0.1%的數(shù)字電橋有幾十種。數(shù)字電橋正向著更高準確度、更多功能、高速、集成化以及智能化程度方面發(fā)展。